Kiss, Ákos Koppány (2016) Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes. PhD thesis, Pannon Egyetem.
|
Text
Kiss_Akos_Koppany_dissertation.pdf Download (5MB) | Preview |
Supervisor name: Lábár, János
DOI identifier
: 10.18136/PE.2016.621
| Item Type: | Thesis (PhD) |
|---|---|
| Subjects: | T Technology / alkalmazott, műszaki tudományok > T2 Technology (General) / műszaki tudományokáltalában |
| SWORD Depositor: | Software Sword MTMT |
| Depositing User: | Software Sword MTMT |
| Date Deposited: | 28 Feb 2018 12:44 |
| Last Modified: | 19 Dec 2022 12:34 |
| URI: | http://real-phd.mtak.hu/id/eprint/625 |
Actions (login required)
 |
Edit Item |
