Agócs, Emil (2015) Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával. PhD thesis, Pannon Egyetem.
|
Text
Agocs_Emil_dissertation.pdf Download (3MB) | Preview |
Official URL: http://konyvtar.uni-pannon.hu/doktori/2014/Agocs_E...
Supervisor name: Petrik, Péter
DOI identifier
: 10.18136/PE.2014.560
| Item Type: | Thesis (PhD) |
|---|---|
| Subjects: | Q Science / természettudomány > QC Physics / fizika |
| SWORD Depositor: | Software Sword MTMT |
| Depositing User: | Software Sword MTMT |
| Date Deposited: | 02 Nov 2017 04:27 |
| Last Modified: | 16 Dec 2022 10:47 |
| URI: | http://real-phd.mtak.hu/id/eprint/511 |
Actions (login required)
 |
Edit Item |
