REAL-PhD

Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával

Agócs, Emil (2015) Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával. PhD thesis, Pannon Egyetem.

[img]
Preview
Text
Agocs_Emil_dissertation.pdf

Download (3MB) | Preview
Supervisor name: Petrik, Péter
DOI identifier : 10.18136/PE.2014.560
Item Type: Thesis (PhD)
Subjects: Q Science / természettudomány > QC Physics / fizika
SWORD Depositor: Software Sword MTMT
Depositing User: Software Sword MTMT
Date Deposited: 02 Nov 2017 04:27
Last Modified: 02 Nov 2017 04:27
URI: http://real-phd.mtak.hu/id/eprint/511

Actions (login required)

Edit Item Edit Item